HNX8000H X荧光光谱仪

HNX8000H X荧光光谱仪配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰

产品特点：

1.HNX8000H X荧光光谱仪配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰

2.整体结构化设计，仪器美观大方。

3.采用美国型的SDD硅漂移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。

4.采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比。5.一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。

6.八种光路校正准直系统，配合5种滤光片，根据不同样品自动切换，多达40种组合。7.多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品中高级的。

8.优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。9.独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。

10.多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。

11.专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。

12.本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。

13.独有的全自动真空系统,屏蔽空气对轻元素测试的影响,提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。

14.一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。

15.抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。

产品技术参数:

1、用途：RoHS及卤素检测、合金元素分析、金属镀层分析、矿石成分分析；

2、测试样品类型：固体、粉末、液体；

3、测试环境：根据测试元素种类可自动切换为大气状态或高真空状态（高真空测量技术，提高测量轻元素的检出限，实现对更多轻元素的准确测量）；

4、分析元素范围：Na-U；

5、含量检测范围：1ppm-99.99%；

6、RoHS及卤素检测限： Cd/Pb/Cr/Hg/Br可达1ppm，Cl可达50ppm；

7、工作环境：温度： 15-30℃，相对湿度：≤70%；

8、输入电源：AC 220V±10%，50Hz；

9、检测时间：60-200S（根据测试需求设定）；

10、重复性：0.05%

11、探测器：进口SDD硅漂移探头，探测器能量分辨率优于127ev；数字多道型多道分析器，4096道址；

12、高压电源： 50KV/1mA，功率50W；

13、X光管：大功率铍窗光管（标配钨靶，可根据测试类型选配其他靶材）；

14、摄像头： 130万像素工业级CCD；

15、准直器和滤光系统：准直器8组（ø8.0mm，ø6.0mm，ø4.0mm，ø3.0mm，ø2.0mm，ø1.0mm，ø0.5mm，ø0.2mm），滤光片5组，可根据测试类型自由组合；

16、真空系统：自动控制型高真空系统、大功率真空泵，5s即可达到测试真空要求；

17、真空样品腔尺寸：直径=100mm，高68mm；

18、整机尺寸：长、宽、高701mm×510mm×320mm；

19、整机重量： 65kg；

20、分析软件：有害元素分析软件、元素分析软件、金属镀层分析软件结合国人使用习惯，简介明了，便于学习操作。相关软件均获得版权局计算机软件著作权证，并取得软件产品证书

21、软件结果输出：测试报告可直接打印，报告也可设置保存为自带加密格式的Excel文档，防止测试结果被篡改；

22、防辐射泄露装置：高灵敏度保护开关，多重保护机制，软件硬件联动保护装置，确保在使用过程中的人身与环境安全；

23、光管散热系统：光管集成一体化散热系统，并有实时温控系统监控，防止仪器长时间连续工作温度过高损坏X光管；